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| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 化工,石油,建材/家具,电子/电池,汽车及零部件 |
王子计测超高位相差测量PAM-UHR100特点：
① 1nm宽测量范围
② 高重复精度±1nm
③ 良好的可操作性
④ 软件
测定对象：
位相差薄膜，塑料，偏振片
光盘
液晶组件
磁带用胶片
收缩薄膜
其他一般用途胶片
用途：
光学功能胶片的研究开发，质量管理
延伸胶片的定向评价(三维折射率，表面定向度)
包装膜的热收缩、撕脱性等的评价
液晶元件的双绞线波长色散特性评估
光学器件的透射椭圆偏振光的评价
王子计测超高位相差測定装置PAM-UHR100技术参数：
| 仕様 | 内容 |
| 測定対象 | 透明な延伸フィルム（ＰＣ，ＰＥＴ等） |
| 測定項目 | 位相差、配向角、複屈折 （位相差範囲 約８００～２００００ｎｍ） |
| 試料寸法 | □４０ｍｍ 厚み３ｍｍ以下 |
| システム構成 | 測定装置本体、ノートパソコン（OS：Windows 7 / Vista / XP） |
| 温湿度条件 | 10～35℃、20～80％ＲＨ（ただし結露しないこと） |
| 電源 | AC100V±10％、50／60Hz |