位相差测定装置可用于数字微波通信系统中作为信道切换控制该装置可以检测两个相同数据序列之间的相位差，两个数据序列中的每一个由两个独立的传输通道之一传输。每个数据序列由串行转换为一个位序列，其个数等于该数据序列的预定公共测量值。其中有几个比较器和一个判断电路，用于检测一个数据序列生成的比特序列与另一个具有相同标签的数据序列生成的比特序列之间的比特差。

　　

　　1、测量范围宽

　　

　　从低相位差（2nm）到高相位差（20000nm）

　　

　　2、高精度测量

　　

　　实现方向的高精度和长期稳定性测量

　　

　　3、日常维护减少耗材

　　

　　采用标准LED光源，无需更换光源

　　

　　4、与kobra-w系列共通

　　

　　样品架，可选夹具共享

　　

　　5、操作注意事项

　　

　　与kobra-w系列相比，开口部较大

　　

　　6、设备尺寸法

　　

　　比kobra-w更紧凑

　　

　　7、1nm宽测量范围，高重复精度±1nm，良好的可操作性

　　

　　位相差测定装置都有哪些用途？

　　

　　1、光学功能膜研发、品质管理。

　　

　　2、延伸膜的取向评价（三维折射率、表面取向）。

　　

　　3、包装薄膜的热收缩和撕裂评价。

　　

　　4、液晶装置用双绞线波长色散特性评价。

　　

　　5、光学器件中透射椭圆偏振光的评估。